垂直度檢測尺校準裝置

一、儀器簡介：

    XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置和XR-300Z型內(nèi)外直角檢測尺校準裝置主體采用穩(wěn)定性很好的花崗巖，高精度測微頭，能夠調整水平的花崗巖底座，符合《JJF1110-2003建筑工程質量檢測器組校準規(guī)范》。

二、儀器用途：

    該校準裝置和XR-300Z型內(nèi)外直角檢測尺校準裝置用來檢測垂直檢測尺的示值誤差及內(nèi)外直角檢測尺的示值誤差。

三、結構原理：

    該校準裝置采用比較法測量，由數(shù)顯測微頭行進距離與回轉軸軸線、導軸軸線間距離L1之比組成標準角β1（sinβ1= L1/R），比較測量垂直度檢測尺轉角β2（sinβ2= L2/R）的示值誤差,其原理是采用數(shù)顯測微頭螺旋副等進傳動原理，使螺桿的回轉運動變?yōu)橹本€運動，將垂直度檢測尺的角位移轉化為直線位移，用線值表示示值誤差ΔL= L2-L1。

    測量原理：L1：數(shù)顯測微頭行進距離mm；L2：垂直度檢測尺示值mm；β1：標準角；β2：垂直度檢測尺轉角；R：回轉軸軸線、導軸軸線間距離mm；ΔL：示值誤差：mm。

四、使用方法：

    旋動測量裝置（數(shù)顯測微頭）在零位的兩個方向進行示值校準，分別在校準位置從數(shù)顯測微頭上，給出相對于校準點的標準值，從垂直度檢測尺的指示表上讀數(shù)，讀數(shù)值減去標準值即為相應點的示值誤差。

五、XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置技術參數(shù)：

    1、型號：XR-2000C型；

    2、高度：1980±1mm；

    3、數(shù)顯測微頭分辨力：0.001mm/m；

    4、數(shù)顯測微頭行程：0-50mm；

    5、數(shù)顯測微頭誤差：±0.004mm。

六、XR-300Z型內(nèi)外直角檢測尺校準裝置技術參數(shù)：

    1、型號：XR-300Z型；

    2、高度：300mm；

    3、寬度：250mm；

    4、厚度：50mm；

    5、工作面的相互垂直度：0.01mm/300；

    6、工作面的平面度：0.005mm；

    7、數(shù)顯測微頭分辨力：0.001mm/m；

    8、數(shù)顯測微頭行程：0-25mm；

    9、數(shù)顯測微頭誤差：±0.004mm；

    10、花崗巖平板的平面度：0.005mm（800X300X150）mm；

    11、花崗巖外形尺寸：（800X300X150）mm。

七、儀器配置：

    1、垂直度檢測尺校準裝置：1臺；

    2、內(nèi)外直角檢測尺校準裝置：1臺；

    3、水平調整支腳：1套；

    4、說明書：1份；

    5、出廠證書：1份；

    6、保修卡：1份。

八、儀器售后服務：

    1、技術服務：

    1.1 賣方負責設備的運輸、裝卸、安裝、調試，責任與費用由乙方承擔。

    1.2 設備出現(xiàn)故障后，乙方2小時回應客戶需求，七日內(nèi)完成維修任務。

    1.3 設備安裝調試完成后，廠家負責技術培訓，保障甲方使用者能夠熟練掌握設備原理和設備使用方法及維護方法。

    2、質量保證期：

    2.1 保修期限為自產(chǎn)品驗收合格之日起12個月。

    2.2 設備終身維修、設備操控軟件免費升級，保修期外乙方提供維修服務只收零部件成本費，其工作人員一切費用由乙方負責。